ElectroCard – Fiche de lecture
AN-024 — A Simplified Test Set for Operational Amplifier Characterization
Auteur : National Semiconductor
Date : Juin 1969
Pourquoi cette AN est importante
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Présentation d'un banc de test semi-automatique permettant de caractériser rapidement et quantitativement les principaux paramètres des amplificateurs opérationnels intégrés. fileciteturn32file0
Ce que l'on y apprend
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- Mesure du courant de polarisation.
- Mesure de la tension d'offset.
- Mesure du courant d'offset.
- Fonction de transfert.
- Rejet du mode commun.
- Générateur de fonctions intégré.
- Calibration du banc.
- Réalisation complète avec schémas et circuit imprimé.
Les pépites techniques
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- Test dynamique sur toute la plage de mode commun.
- Affichage direct sur oscilloscope X-Y.
- Schéma complet et implantation.
- Conception facilement reproductible.
Intérêt historique
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L'une des premières notes décrivant un banc universel de caractérisation des amplificateurs opérationnels LM709, LM101 et compatibles.
Niveau
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★★★★★
Avis ElectroCard
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Une référence exceptionnelle pour quiconque souhaite comprendre ou reconstruire un véritable banc de test analogique de laboratoire.